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一六儀器 **測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法 X射線熒光鍍層測厚儀
應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題
上照式:通常都有Z軸可移動,所以可對形狀復雜的樣品(如凹面內)做定位并且測試,一般可定位到2mm以內的深度,如Thick800A,另外有些廠商在此基礎上配備了可變焦裝置,搭配先進的算法,可定位到80mm以內的深度,如XDL237
下照式:通常都沒有Z軸可移動,所以不可對凹面等無法直接接觸測試窗口的位置進行定位并測試,電鍍測厚儀,但操作簡單,造價相對低;部分廠商或款式儀器搭載變焦裝置也可測試復雜形狀樣品,同時也抬高了價格
江蘇一六儀器 我們**的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗,經(jīng)與海內外多名通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進的解譜方法和EFP算法結合精準定位及變焦結構設計,解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。
-樣品觀察系統(tǒng)高分辨、彩色、實時CCD觀察系統(tǒng),標準放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。激光輔助光自動對焦功能可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
7計算機系統(tǒng)配置IBM計算機:1.6G奔騰IV處理器,256M內存,1.44M軟驅,40G硬盤,CD-ROM,鼠標,鍵盤,17寸彩顯,56K調制解調器?;萜栈驉燮丈噬珖娔蛴C。
8分析應用軟件操作系統(tǒng):Windows2000中文平臺中文分析軟件包:SmartlinkFP軟件包
一六儀器 **測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法 X射線熒光鍍層測厚儀
應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題
薄膜是指在基板的垂直方向上所堆積的1~104的原子層或分子層。在此方向上,薄膜具有微觀結構。
理想的薄膜厚度是指基片表面和薄膜表面之間的距離。由于薄膜僅在厚度方向是微觀的,其他的兩維方向具有宏觀大小。所以,表示薄膜的形狀,一定要用宏觀方法,即采用長、寬、厚的方法。因此,膜厚既是一個宏觀概念,又是微觀上的實體線度。
由于實際上存在的表面是不平整和連續(xù)的,而且薄膜內部還可能存在著、雜質、晶格缺陷和表面吸附分子等,所以,要嚴格地定義和測量薄膜的厚度實際上是比較困難的。膜厚的定義應根據(jù)測量的方法和目的來決定。
經(jīng)典模型認為物質的表面并不是一個抽象的幾何概念,而是由剛性球的原子(分子)緊密排列而成,是實際存在的一個物理概念。
形狀膜厚:dT是接近于直觀形式的膜厚,通常以um為單位。dT只與表面原子(分子)有關,并且包含著薄膜內部結構的影響;
質量膜厚:dM反映了薄膜中包含物質的多少,通常以μg/cm2為單位,它消除了薄膜內部結構的影響(如缺陷、、變形等);
物性膜厚:dP在實際使用上較有用,而且比較容易測量,它與薄膜內部結構和外部結構無直接關系,主要取決于薄膜的性質(如電阻率、透射率等)。
企業(yè): 江蘇一六儀器有限公司
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