無(wú)錫測(cè)厚儀-一六儀器1

江蘇一六儀器    X射線熒光鍍層測(cè)厚儀 為大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析提供解決方案

X射線熒光光譜測(cè)厚儀操作流程:

1.打開(kāi)儀器電源 開(kāi)關(guān)

2.打開(kāi)測(cè)試軟件

3.聯(lián)機(jī)

4.打開(kāi)儀器高壓鑰匙，觀察軟件界面管流值不為0值且正常上升至1000左右

5.待機(jī)30分鐘

6.打開(kāi)測(cè)試腔放入標(biāo)準(zhǔn)元素片Ag，通過(guò)調(diào)整移動(dòng)平臺(tái)滑軌和焦距旋鈕使軟件測(cè)試畫面清晰

7.點(diǎn)擊峰位校正圖標(biāo)按照提示進(jìn)行操作

8.根據(jù)已知樣品信息新建（或選擇）合適的產(chǎn)品程式

9.點(diǎn)擊資料圖標(biāo)，根據(jù)客戶需求調(diào)整相關(guān)測(cè)量參數(shù)

10.放置樣品：打開(kāi)測(cè)試腔，將樣品需要測(cè)試的一面大致朝向測(cè)試窗，邊觀察軟件測(cè)試畫面邊通過(guò)移動(dòng)平臺(tái)滑軌微調(diào)測(cè)試位置

進(jìn)而達(dá)到測(cè)試要求位置

11.調(diào)整焦距：使用儀器左側(cè)焦距調(diào)整旋鈕，使得軟件測(cè)試畫面盡可能清晰

12.開(kāi)始測(cè)量：點(diǎn)擊開(kāi)始測(cè)試圖標(biāo)，進(jìn)行樣品測(cè)試或者按動(dòng)儀器前面板測(cè)試按鈕進(jìn)行樣品測(cè)試

13.數(shù)據(jù)報(bào)告：對(duì)測(cè)量的數(shù)據(jù)結(jié)果進(jìn)行對(duì)比和分析，判斷數(shù)據(jù)是否正常，若出現(xiàn)異?？蛇M(jìn)行多次測(cè)量排除偶然誤差

14.生成報(bào)告：點(diǎn)擊預(yù)覽報(bào)告可以對(duì)測(cè)試報(bào)告內(nèi)容和格式進(jìn)行調(diào)整，還可以電子版保存報(bào)告和直接打印紙質(zhì)報(bào)告

15.整理反饋：對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析和整理，可通過(guò)給出測(cè)試報(bào)告的形式與客戶進(jìn)行溝通和反饋

一六儀器 測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集，先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

應(yīng)用于電子元器件，LED和照明，家用電器，通訊，汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

X熒光鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片選擇與使用

1．一般要求

   使用可靠的參考標(biāo)準(zhǔn)塊校準(zhǔn)儀器。后的測(cè)量不確定度直接取決于校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊的測(cè)量不確定度和測(cè)量精度。

   參考標(biāo)準(zhǔn)塊應(yīng)具有的已知單位面積質(zhì)量或厚度的均勻的覆蓋層，如果是合金，則應(yīng)知其組成。參考標(biāo)準(zhǔn)塊的有效或限定表面的任何位置的覆蓋層不能超過(guò)規(guī)定值的±5%.只要用于相同的組成和同樣或已知密度的覆蓋層，規(guī)定以厚度為單位（而不是單位面積質(zhì)量）的標(biāo)準(zhǔn)塊，將是可靠的。合金組成的測(cè)定，校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)不需要相同，但應(yīng)當(dāng)已知。

金屬箔標(biāo)準(zhǔn)片。如果使用金屬箔貼在特殊基體表面作標(biāo)準(zhǔn)片，就必須注意確保接觸清潔，無(wú)皺折紐結(jié)。任何密度差異，除非測(cè)量允許，否則必須進(jìn)行補(bǔ)償后再測(cè)。

2．標(biāo)準(zhǔn)塊的選擇

可用標(biāo)準(zhǔn)塊的單位面積厚度單位校準(zhǔn)儀器，厚度值必須伴隨著覆蓋層材料的密度來(lái)校正。標(biāo)準(zhǔn)片應(yīng)與被測(cè)試樣具有相同的覆蓋層和基體材料，但對(duì)試樣基材為合金成分的，有些儀器軟件允許標(biāo)樣基材可與被測(cè)試樣基材不同，但前提是標(biāo)準(zhǔn)塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。

3．標(biāo)準(zhǔn)塊的X射線發(fā)射（或吸收）特性及使用

   校正標(biāo)準(zhǔn)塊的覆蓋層應(yīng)與被測(cè)覆蓋層具有相同的X射線發(fā)射（或吸收）特性。

如果厚度由X射線吸收方法或比率方法確定，測(cè)厚儀，則厚度標(biāo)準(zhǔn)塊的基體應(yīng)與被測(cè)試樣的基體具有相同的X射線發(fā)射特性，通過(guò)比較被測(cè)試樣與校正參考標(biāo)準(zhǔn)塊的未鍍基體所選的特征輻射的強(qiáng)度，然后通過(guò)軟件達(dá)到對(duì)儀器的校正。

     一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層，24種元素   厚度檢出限:0.005um

   江蘇一六儀器  X熒光測(cè)厚儀測(cè)試要求：

工作要求：

1 環(huán)境溫度要求：15℃-30℃

2 環(huán)境相對(duì)濕度：<70%

3 工作電源：交流220±5V

4 周圍不能有強(qiáng)電磁干擾。

5 Max功率 ：330W

6 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （長(zhǎng)x寬x高）

7 樣品倉(cāng)尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （長(zhǎng)x寬x高）

8 儀器重量 ：55kg

9 分析軟件EFP，可同時(shí)分析23層鍍層，24種元素，不同層有相同元素也可分析

10 軟件操作人性化封閉軟件，自動(dòng)提示校正和步驟，避免操作錯(cuò)誤

11 X射線裝置：W靶微聚焦加強(qiáng)型射線管

無(wú)錫測(cè)厚儀-一六儀器1由江蘇一六儀器有限公司提供。“測(cè)厚儀,標(biāo)準(zhǔn)片”選擇江蘇一六儀器有限公司，公司位于：江蘇省昆山市玉山鎮(zhèn)成功路168號(hào)，多年來(lái)，一六儀器堅(jiān)持為客戶提供好的服務(wù)，聯(lián)系人：鄧女士。歡迎廣大新老客戶來(lái)電，來(lái)函，親臨指導(dǎo)，洽談業(yè)務(wù)。一六儀器期待成為您的長(zhǎng)期合作伙伴！