洋嘉電子(圖)-FCT功能測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格-FCT功能測(cè)試系統(tǒng)

FCT功能測(cè)試系統(tǒng)概述

功能測(cè)試（FT：Functional Test或FCT：Functional Circuit Test）指的是對(duì)測(cè)試目標(biāo)板（UUT：Unit Under Test）的提供模擬的運(yùn)行環(huán)境，F(xiàn)CT功能測(cè)試系統(tǒng)，加載合適的激勵(lì)或負(fù)載，使UUT工作于各種設(shè)計(jì)、工作狀態(tài)，從而獲取UUT點(diǎn)的輸出參數(shù)和響應(yīng)情況，進(jìn)行驗(yàn)證UUT的功能是否良好的測(cè)試方法，F(xiàn)CT功能測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格，測(cè)量輸出端響應(yīng)是否合乎要求。

各類電子產(chǎn)品的實(shí)裝電路板（PCBA）在批量生產(chǎn)過(guò)程中，設(shè)備狀態(tài)和人為操作因素都可能引入缺陷，因此要求在生產(chǎn)中加入各種測(cè)試設(shè)備和測(cè)試工具，F(xiàn)CT功能測(cè)試系統(tǒng)廠家，以保證所有出廠的實(shí)裝電路板符合設(shè)計(jì)的規(guī)格和參數(shù)。因此，對(duì)PCBA要求進(jìn)行ICT、AOI、FCT等各種測(cè)試和檢測(cè)。-------------------------------------------------------

fct功能測(cè)試治具原理

常規(guī)的治具設(shè)計(jì)，大多采用雙載板平衡桿和針板平衡桿。在測(cè)試過(guò)程中壓板下壓時(shí)，如果壓板、載板、針板固定不佳，容易產(chǎn)生晃動(dòng)，從而使UUT產(chǎn)生翹邊變形，進(jìn)行而導(dǎo)致測(cè)試針和測(cè)試點(diǎn)接觸不良或者位置偏移，使得測(cè)試針彎曲變形引起誤測(cè)甚至導(dǎo)致UUT裂損。上述情況的發(fā)生，尤其是在UUT的厚度發(fā)生較大變化時(shí)更容易產(chǎn)生。

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