麗水鍍層測厚儀信賴推薦,一六儀器1

能量色散X射線熒光光譜儀技術(shù)原理

江蘇一六儀器  國內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測厚儀 穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

能量色散X射線熒光光譜儀主要由激發(fā)、色散、探測、記錄及數(shù)據(jù)處理等單元組成。激發(fā)單元的作用是產(chǎn)生初級X射線。

它由高壓發(fā)生器和X光管組成。后者功率較大，用水和油同時(shí)冷卻。色散單元的作用是分出想要波長的X射線。它由樣品室、狹縫、測角儀、分析晶體等部分組成。

能量色散X射線熒光光譜儀技術(shù)原理

能量色散X射線熒光光譜儀是一種波長較短的電磁輻射，凡間是指能t局限在0.1^-100keV的光子。能量色散X射線熒光光譜儀與物質(zhì)的互相效果首要有熒光、接收和散射三種。

能量色散X射線熒光光譜儀是由物質(zhì)中的構(gòu)成元素發(fā)生的特征輻射，經(jīng)過側(cè)里和剖析樣品發(fā)生的x射線熒光，即可獲知樣品中的元家構(gòu)成，獲得物質(zhì)成分的定性和定量信息。

一六儀器  國內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測厚儀  

一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

測厚儀操作規(guī)程有哪些？測厚儀在使用過程中，如果操作不規(guī)范，很容易導(dǎo)致測厚儀出現(xiàn)故障及問題，因此我們在使用前都需要先了解下測厚儀的操作規(guī)范及一些常見問題的處理方法：

四.安全衛(wèi)生

1、源需由專人保管；

2、應(yīng)有妥善的保管場所（有防盜門、窗和放置源用的鐵皮 柜，距生活區(qū)一米遠(yuǎn)）；

3、長期不使用時(shí),應(yīng)放置保管場所；

4、衛(wèi)生

5、應(yīng)定期清理主機(jī)和探頭外表面，對源鉛罐上表面也要定期清理。

一六儀器  國內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測厚儀  

一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

儀器規(guī)格：

   外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （長x寬x高）

   樣品倉尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （長x寬x高）

   儀器重量 ：55kg

   供電電源 ：交流220±5V

    zui da功率 ：330W

   環(huán)境溫度：15℃-30℃

   環(huán)境相對濕度：<70%

涂層測厚儀操作規(guī)程有哪些

   我們在使用涂層測厚儀時(shí)，如果不了解涂層測厚儀的操作規(guī)程，那么就很容易出現(xiàn)一些問題，甚至嚴(yán)重的可能會對自身產(chǎn)生威脅，那么涂層測厚儀的操作規(guī)程有哪些，下面就來了解下先：

 一、操作注意事項(xiàng)

  1. 如果在測量中測頭放置不穩(wěn)，會引起測量值與實(shí)際值偏差較大；

  2.  如果已經(jīng)進(jìn)行了適當(dāng)?shù)男?zhǔn)，所有的測量值將保持在一定的誤差 范圍內(nèi)；

  3. 儀器的任何一個(gè)測量值都是五次看不見的測量平均值；

  4.  為使測量更加準(zhǔn)確，可在一個(gè)點(diǎn)多次測量，并計(jì)算其平均值作為 終的測量結(jié)果；

  5.  顯示測量結(jié)果后，一定要提起測頭至距離工件10mm以上，才可以 進(jìn)行下次測量。

X射線熒光分析儀的應(yīng)用

一六儀器X射線熒光測厚儀 研發(fā)生產(chǎn)廠家 品質(zhì)保證

江蘇一六儀器有限公司研發(fā)的能量色散X熒光光譜儀具有穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析，歡迎來電咨詢！

X射線熒光分析儀的不斷完善和發(fā)展所帶動的X 射線熒光分析技術(shù)已被廣泛用于冶金、地質(zhì)、礦物、石油、化工、生物、刑偵、考古等諸多部門和領(lǐng)域?！霸诰€測厚”是一個(gè)動作，不是一臺儀器，是指在流水線（或者其他工藝環(huán)節(jié)）不斷的實(shí)時(shí)測量目標(biāo)的厚度的這樣的一個(gè)動作。X 射線熒光光譜分析不僅成為對其物質(zhì)的化學(xué)元素、物相、化學(xué)立體結(jié)構(gòu)、物證材料進(jìn)行試測，對產(chǎn)品和材料質(zhì)量進(jìn)行無損檢測，對人體進(jìn)檢和微電路的光刻檢驗(yàn)等的重要分析手段，也是材料科學(xué)、生命科學(xué)、環(huán)境科學(xué)等普遍采用的一種快速、準(zhǔn)確而又經(jīng)濟(jì)的多元素分析方法。同時(shí)，X 射線熒光光譜儀也是野外現(xiàn)場分析和過程控制分析等方面shou  xuan器之一。