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膜厚儀一般來說和涂層測厚儀是一類產(chǎn)品。
膜厚儀一般是測氧化膜層厚度,常見的鋁基,銅基氧化,測量時候用涂層測厚儀選擇N(非磁性)探頭,這樣測鋁基等氧化層也稱為膜厚儀。
涂層測厚儀正常情況下有兩種測量原理,配F合N探頭,或者FN一體探頭。氧化層一般是幾微米到十幾微米,但是普通的涂層測厚儀誤差比較大,需要用的涂層測厚儀測量氧化層,比如中科樸道的PD-CT2涂層測厚儀就可以測量氧化層。