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滁州電鍍膜厚儀按需定制

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發(fā)布時間:2020-08-18 06:21  







一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

鍍層厚度分析儀簡介鍍層厚度分析儀又叫涂鍍層測量儀、電鍍層測試儀、防腐層檢測儀、涂鍍層測試儀、涂鍍層測量儀、油漆測厚儀價格、油漆層測厚儀、油漆膜厚儀、鋼結(jié)構(gòu)油漆層測厚儀、鋼板油漆測厚儀、鋼管油漆測厚儀、油漆防腐層測厚儀、油罐防腐層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。二.磁感應(yīng)測量原理鍍層厚度分析儀采用磁感應(yīng)原理時,利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點,是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測儀器,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。

鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié),是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。

鍍層厚度分析儀的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。

X射線和β射線法是無接觸無損測量,測量范圍較小,X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。

隨著技術(shù)的日益進步,特別是近年來引入微機技術(shù)后,X射線鍍層厚度分析儀向微型、智能、多功能、、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達(dá)0.1微米,精度可達(dá)到1%,有了大幅度的提高。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗,經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。


江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗,經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。

波長色散型X射線熒光光譜儀的前面部分和能量色散型X射線熒光光譜儀是一樣的,X光管激發(fā)樣品,檢測器測量來自樣品的射線,但波長色散型X射線熒光光譜儀的檢測器和能量色散型X射線熒光光譜儀的檢測器不同。波長色散型X射線熒光光譜儀的計策系統(tǒng)由一套準(zhǔn)直器,衍射晶體和探測器組成,來自樣品的特征譜線照射到鏡頭上,晶體將不同波長(能量)的譜線衍射到不同的方向,(相當(dāng)于棱鏡將復(fù)合光分解成不同的單色光),將檢測器放置在一定的角度,就可測量某一波長的譜線強度。如:地質(zhì)礦產(chǎn),冶金、化工、材料、石油勘探、考古、合金、土壤、鍍層等諸多行業(yè)。將分光晶體和探測器裝在測角儀上,使它在一定角度范圍內(nèi)轉(zhuǎn)動,一次測量不同波長長譜線的強度,使用這種形式的光譜儀稱為順序掃描式光譜儀。安裝固定檢測系統(tǒng)的稱為同時式光譜儀,每一套檢測系統(tǒng)都有自己的晶體和探測器,分別測量某一特定元素的譜線,各譜線的強度同時被測量,這就很容易理解為什么稱它為固定道波長色散型光譜儀,另外也有固定式和轉(zhuǎn)動式結(jié)合的儀器。X射線波長色散型光譜儀一般有光源(X-射線管)、樣品室

分光晶體和檢測系統(tǒng)等組成。


測厚范圍可測定厚度范圍:取決于用戶的具體應(yīng)用。將列表可測定的厚度范圍-基本分析功能無標(biāo)樣檢量線測厚,可采用一點或多點標(biāo)準(zhǔn)樣品自動進行基本參數(shù)方法校正。GD-OES方法用惰性原子逐層轟擊及剝離試樣表層,再用發(fā)射光譜測定,這種方法可實現(xiàn)剖面或逐層分析,但測量重復(fù)性并不理想。根據(jù)客戶本身應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)可檢測元素范圍:Ti22–U92可同時測定5層/15種元素/共存元素校正組成分析時,可同時測定15種元素多達(dá)4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析-調(diào)整和校正功能系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能:校正X射線管、探測器和電子線路的變化對分析結(jié)果的影響,自動消除系統(tǒng)漂移譜峰計數(shù)時,峰漂移自動校正功能譜峰死時間自動校正功能譜峰脈沖堆積自動剔除功能標(biāo)準(zhǔn)樣品和實測樣品間,密度校正功能譜峰重疊剝離和峰形擬合計算-測量自動化功能(要求XY程控機構(gòu))鼠標(biāo)控制測量模式:'PointandShoot'多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測量模式測量位置預(yù)覽功能激光對焦和自動對焦功能-樣品臺程控功能(要求XY程控機構(gòu))設(shè)定測量點oneorTwoDatumn(reference)Pointsoneachfile測量位置預(yù)覽


江蘇一六儀器  專業(yè)涂鍍層研發(fā)、生產(chǎn)、銷售高新技術(shù)企業(yè)。其中穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計,解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。

單鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。

雙鍍層:Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。

三鍍層:Au/Ni/Cu/ABS,Au/Ag/Ni/Cu, Au/Ni/Cu/Fe,等等

一、功能

1. 采用 X 射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度,測量方法滿足

GB/T 16921-2005 標(biāo)準(zhǔn)(等同 ISO3497:2000、 ASTM B568 和 DIN50987)。

2.  鍍層層數(shù):多至 5 層。

3. 測量點尺寸:圓形測量點,直徑約 0.2—0.8毫米。

4. 測量時間:通常 30 秒。

5. 測量誤差:通常小于 5%,視樣品具體情況而定。

6. 可測厚度范圍:通常 0.01 微米到 30 微米,視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。



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