膜厚測試儀多重優(yōu)惠“本信息長期有效”

一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀 

應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005umxiao測量面積0.002m㎡  深凹槽20mm以上

鍍層厚度分析儀使用注意事項

1．儀器供電電壓必須與儀器銘牌上的電壓一致。儀器必須使用三線插頭連到一個已接地的插座上。

2．鍍層厚度分析儀為精密儀器，建議配備的穩(wěn)壓電源。計算機和儀器應配備不間斷電源（UPS）。

3．鍍層厚度分析儀應特別注意與存在電磁的場合隔離開來。

4．儀器適合在10~40℃（50~104℉）的環(huán)境溫度下操作使用，在0~50℃（32~122℉）的溫度下存放。操作和存放的允許濕度范圍在0~65%之間（非冷凝）。在操作過程中，環(huán)境溫度和濕度應保持恒定。

5．儀器曝曬在陽光下時溫度極易超過50℃。所以請不要在這樣的環(huán)境下操作和存放儀器，以避免高溫對儀器造成損害。

6．為避免短路，嚴禁儀器與液體直接接觸。如果液體進入儀器，請立刻關閉儀器并在重新使用前請技術人員整體檢查儀器。

7．鍍層厚度分析儀不能用于酸性環(huán)境和場合。

8．不要弄臟和刮擦元素片或調校標準片，否則會造成讀數(shù)錯誤。

9．不要用任何機械或化學的方法清除元素片或調校標準片上的污物。如果必要的話，可以用一塊不起毛的布輕輕擦除臟物。

上照式：通常都有Z軸可移動，所以可對形狀復雜的樣品（如凹面內）做定位并且測試，一般可定位到2mm以內的深度，如Thick800A，另外有些廠商在此基礎上配備了可變焦裝置，搭配先進的算法，可定位到80mm以內的深度，如XDL237

下照式：通常都沒有Z軸可移動，所以不可對凹面等無法直接接觸測試窗口的位置進行定位并測試，但操作簡單，造價相對低；部分廠商或款式儀器搭載變焦裝置也可測試復雜形狀樣品，同時也抬高了價格

江蘇一六儀器   X射線熒光光譜儀XTU/X-RAY系列 

技術參數(shù)

X射線裝置：W靶微聚焦加強型射線管

準直器φ 0.05 mm  ；φ 0.1 mm；φ 0.2 mm；φ 0.5 mm； 準直器任意選擇或者任意切換

近測距光斑擴散度：9%

測量距離：具有距離補償功能，可改變測量距離，能測量凹凸異型樣品，變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)

樣品觀察：1/2.5彩色CCD，變焦功能對焦方式高敏感鏡頭，手動對焦

放大倍數(shù)：光學38-46X，數(shù)字放大40-200倍

隨機標準片：十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um 

其它附件：聯(lián)想電腦一套、噴墨打印機、附件箱