常用的無損檢測(cè)方法:射線照相檢驗(yàn)(RT)、超聲檢測(cè)(UT)、磁粉檢測(cè)(MT)和液體滲透檢測(cè)(PT) 四種。其他無損檢測(cè)方法:渦流檢測(cè)(ET)、聲發(fā)射檢測(cè)(AT)、熱像/紅外(TIR)、泄漏試驗(yàn)(LT)、交流場(chǎng)測(cè)量技術(shù)(ACFMT)、漏磁檢驗(yàn)(MFL)、遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試檢測(cè)方法(RFT)、超聲波衍射時(shí)差法(TOFD)等。常用五種無損檢測(cè)手段射線照相檢驗(yàn)(RT)射線檢測(cè)的基本原理是:利用射線(X射線、γ射線和中子射線)在介質(zhì)中傳播時(shí)的衰減特性,當(dāng)將強(qiáng)度均勻的射線從被檢件的一面注入其中時(shí),由于缺陷與被檢件基體材料對(duì)射線的衰減特性不同,透過被檢件后的射線強(qiáng)度將會(huì)不均勻,用膠片照相、熒光屏直接觀測(cè)等方法在其對(duì)面檢測(cè)透過被檢件后的射線強(qiáng)度,即可判斷被檢件表面或內(nèi)部是否存在缺陷(異質(zhì)點(diǎn))。

無損檢測(cè)內(nèi)窺鏡 /聲發(fā)射 /x射線機(jī) /超聲波測(cè)厚儀/超聲波探傷儀/漏磁檢測(cè) /渦流探傷儀 /應(yīng)力測(cè)定儀 /熒光滲透檢測(cè) /磁粉探傷機(jī) /磁記憶探傷 /CT檢測(cè)視覺檢測(cè) /超聲波檢測(cè)儀/熱波檢測(cè) /水份探測(cè)儀 /測(cè)厚儀 /電磁探傷儀 /管道檢測(cè)儀 /焊縫外觀檢測(cè) /黑白密度計(jì) /鋼絲繩探傷儀/金屬分選儀 /金屬探測(cè)儀/裂紋檢測(cè)儀 /散斑探傷儀 /紫外線燈 /其它NDT /探頭 /退磁機(jī) /射線防護(hù) /射線劑量報(bào)警 /洗片機(jī) /X射線選礦機(jī) /γ射線機(jī)物理測(cè)試鐵素體測(cè)定儀 /鑲嵌機(jī) /制樣機(jī) /金相圖像分析/磨拋機(jī) /切割機(jī) /核子密度 /灰份儀 /金相顯微鏡 /晶體分析儀 /平震測(cè)試系統(tǒng) /磁場(chǎng)測(cè)試儀 /中子水份儀 /衍射儀 /張力儀 /折光儀 /探礦磁力儀
軟件開發(fā)是根據(jù)用戶要求建造出軟件系統(tǒng)或者系統(tǒng)中的軟件部分的過程。軟件開發(fā)是一項(xiàng)包括需求,需求分析,設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)和測(cè)試的系統(tǒng)工程。軟件一般是用某種程序設(shè)計(jì)語言來實(shí)現(xiàn)的。通常采用軟件開發(fā)工具可以進(jìn)行開發(fā)。軟件開發(fā)流程即Software development process。軟件設(shè)計(jì)思路和方法的一般過程,包括設(shè)計(jì)軟件的功能和實(shí)現(xiàn)的算法和方法、軟件的總體結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和模塊設(shè)計(jì)、編程和調(diào)試、程序聯(lián)調(diào)和測(cè)試以及編寫、提交程序。1 相關(guān)系統(tǒng)分析員和用戶初步了解需求,然后列出要開發(fā)的系統(tǒng)的大功能模塊,每個(gè)大功能模塊有哪些小功能模塊,對(duì)于有些需求比較明確相關(guān)的界面時(shí),在這一步里面可以初步定義好少量的界面。2 系統(tǒng)分析員深入了解和分析需求,根據(jù)自己的經(jīng)驗(yàn)和需求做出一份文檔系統(tǒng)的功能需求文檔。這次的文檔會(huì)清楚例用系統(tǒng)大致的大功能模塊,大功能模塊有哪些小功能模塊,并且還例出相關(guān)的界面和界面功能。
國(guó)際市場(chǎng)已經(jīng)步入成熟,而我國(guó)市場(chǎng)正走向成長(zhǎng),兩者之間的發(fā)展差距和進(jìn)程快慢有了明顯的變化。在市場(chǎng)方面依然是日美等企業(yè)居于主導(dǎo)地位,擁有技術(shù)、人才和產(chǎn)品上的優(yōu)勢(shì),占據(jù)全球市場(chǎng)的大頭份額,但在增長(zhǎng)速度和市場(chǎng)規(guī)模等數(shù)據(jù)上,我國(guó)正在奮起直追且效果顯著,眼下已成為全球第三大機(jī)器視覺市場(chǎng),同時(shí)涌現(xiàn)出像維視智造這樣的研發(fā)生產(chǎn)企業(yè),不斷強(qiáng)化軟件開發(fā)能力和工業(yè)相機(jī)等的研發(fā)制造能力。